發現某種統計檢定方法如果圖像化 感覺很像兩個點光源通過單狹縫繞射後 在屏幕形成的光強度分佈 於是想到談成像角解析度時會用的瑞麗判據 內容是成像中可分辨出是來自兩點的最小夾角 是發生在點A成像的最亮處和點B成像亮暗紋的第一個暗處重合時 乍看很有道理 可是我疑惑到底是人為劃定的規則或是有什麼其他原理 以前好像查過其實有其他判據 於是我就把問題擱置了 但是想到統計檢定和兩點光源繞射成像的相似處 就試著查資料 結果查到了幾篇論文 是從統計檢定的角度試圖推出解析度判據 公式沒有完全一樣甚至稍微複雜 不過在數值數量級相近 其論點似乎是 因為單狹縫繞射可視為光子穿過狹縫 依據某種機率分佈落在屏幕 屏幕上的成像 就是對機率分佈的抽樣 所以判斷成像是否來自兩個點光源 等價於做統計檢定是否來自兩個分佈 因而統計檢定的方法和角解析度判據有關聯 -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt-web.org.tw), 來自: 61.227.17.145 (臺灣) ※ 文章網址: https://ptt-web.org.tw/Marginalman/M.1711448828.A.7BD

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